AMD啟用最新測試系統 65nm處理器臨近

　　Keithley Instruments公司日前表示，AMD將在其Fab 36 12英寸晶圓廠啟用參量測試系統S6800 DC/RF。

　　據悉，S6800 DC/RF系統將可用于測試80nm和65nm芯片制造工藝。未來，S6800 DC/RF系統還可被用于測試45nm芯片制造工藝。從AMD采用Keithley Instruments的測試系統來看，其已開始為65nm工藝摩拳擦掌了。